SISTEM PENGUJIAN KARAKTERISTIK KOMPONEN PASIF DENGAN BANTUAN OSILOSKOP

TANATA, RUSTYAWAN; ZP, Fatimah

dc.contributor.author	TANATA, RUSTYAWAN
dc.contributor.author	ZP, Fatimah
dc.date.accessioned	2024-10-10T06:59:54Z
dc.date.available	2024-10-10T06:59:54Z
dc.date.issued	1996-08-20
dc.identifier.uri	http://repository.iti.ac.id/jspui/handle/123456789/2481
dc.description	Dosen Pembimbing : Fatimah ZP	en_US
dc.description.abstract	Sistem Pengujian Karakteristik Komponen Pasif Dengan Bantuan Osiloskop adalah suatu alat yang dirancang dengan tujuan untuk melakukan pengujian dan mempermudah penganalisaan bentuk-bentuk kurva karakteristik komponen pasif atau rangkaian komponen pas if, juga beberapa komponen semikonduktor. Osiloskop pada sis tern ini digunakan sebagai alat bantu untuk menampilkan bentuk-bentuk kurva karakteristik dari hasil pengujian suatu komponen. Sistem ini merupakan suatu rangkaian yang terintegrasi pada papan utama, serta instrumen lain sebagai alat bantu untuk menampilkan hasil pengujian komponen. Bagian - bagian sistem ini adalah : - Bagian terminal pengujian komponen. - Bagian pembangkit gelombang. - Bagian bentuk kurva.	en_US
dc.language.iso	other	en_US
dc.publisher	Institut Teknologi Indonesia	en_US
dc.title	SISTEM PENGUJIAN KARAKTERISTIK KOMPONEN PASIF DENGAN BANTUAN OSILOSKOP	en_US
dc.type	Thesis	en_US
dc.identifier.nim	NIM011890022