Please use this identifier to cite or link to this item: http://repository.iti.ac.id/jspui/handle/123456789/2481
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorTANATA, RUSTYAWAN-
dc.contributor.authorZP, Fatimah-
dc.date.accessioned2024-10-10T06:59:54Z-
dc.date.available2024-10-10T06:59:54Z-
dc.date.issued1996-08-20-
dc.identifier.urihttp://repository.iti.ac.id/jspui/handle/123456789/2481-
dc.descriptionDosen Pembimbing : Fatimah ZPen_US
dc.description.abstractSistem Pengujian Karakteristik Komponen Pasif Dengan Bantuan Osiloskop adalah suatu alat yang dirancang dengan tujuan untuk melakukan pengujian dan mempermudah penganalisaan bentuk-bentuk kurva karakteristik komponen pasif atau rangkaian komponen pas if, juga beberapa komponen semikonduktor. Osiloskop pada sis tern ini digunakan sebagai alat bantu untuk menampilkan bentuk-bentuk kurva karakteristik dari hasil pengujian suatu komponen. Sistem ini merupakan suatu rangkaian yang terintegrasi pada papan utama, serta instrumen lain sebagai alat bantu untuk menampilkan hasil pengujian komponen. Bagian - bagian sistem ini adalah : - Bagian terminal pengujian komponen. - Bagian pembangkit gelombang. - Bagian bentuk kurva.en_US
dc.language.isootheren_US
dc.publisherInstitut Teknologi Indonesiaen_US
dc.titleSISTEM PENGUJIAN KARAKTERISTIK KOMPONEN PASIF DENGAN BANTUAN OSILOSKOPen_US
dc.typeThesisen_US
dc.identifier.nimNIM011890022-
Appears in Collections:[TA] Teknik Elektro

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
EL 1996 8.pdf
  Restricted Access
FULL TEXT15.82 MBAdobe PDFView/Open Request a copy


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.